有效的方法用于減少開(kāi)關(guān)電源的功耗
有效的方法用于減少開(kāi)關(guān)電源的功耗
目前我國(guó)大多數(shù)開(kāi)關(guān)電源由額定負(fù)載轉(zhuǎn)入輕載和待機(jī)狀態(tài)時(shí),電源管理效率急劇下降,待機(jī)效率問(wèn)題不能得到滿足企業(yè)要求。開(kāi)關(guān)電源廠家利用現(xiàn)代電力電子技術(shù),控制開(kāi)關(guān)管開(kāi)通和關(guān)斷的時(shí)間比率,維持穩(wěn)定輸出電壓的一種電源,開(kāi)關(guān)電源一般由脈沖寬度調(diào)制控制IC和MOSFET構(gòu)成。24V開(kāi)關(guān)電源是高頻逆變開(kāi)關(guān)電源中的一個(gè)種類(lèi)。什么是24V開(kāi)關(guān)電源 24V開(kāi)關(guān)電源就是用通過(guò)電路控制開(kāi)關(guān)管進(jìn)行高速的導(dǎo)通與截止.將交流電提供給變壓器進(jìn)行變壓轉(zhuǎn)化為高頻率的交流電。12V開(kāi)關(guān)電源主要檢查300V上的大濾波 電容 、整流橋各 二極管 及開(kāi)關(guān)管等部位,抗干擾電路出問(wèn)題也會(huì)導(dǎo)致保險(xiǎn)燒、發(fā)黑。需要注意的是:因開(kāi)關(guān)管擊穿導(dǎo)致保險(xiǎn)燒一般會(huì)把電流檢測(cè) 電阻 和電源控制芯片燒壞。負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻也很容易和保險(xiǎn)一起被燒壞。這就給電源系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)工程師們提出了新的挑戰(zhàn)。
開(kāi)關(guān)電源功耗分析
為了減少開(kāi)關(guān)電源的待機(jī)損耗,提高待機(jī)效率,應(yīng)首先分析開(kāi)關(guān)電源損耗的組成。 以反激電源為例,其工作損耗主要為:MOSFET導(dǎo)通損耗,MOSFET導(dǎo)通損耗。
在待機(jī)狀態(tài)下,主電路電流較小,mosfet 導(dǎo)通時(shí)間較短,電路工作在 dcm 模式,導(dǎo)通損耗、二次整流損耗等較小,此時(shí)損耗主要由寄生電容損耗、開(kāi)關(guān)重疊損耗和起動(dòng)電阻損耗組成。
為了減小開(kāi)關(guān)損耗待機(jī),待機(jī)效率,首先要分析開(kāi)關(guān)的功耗的結(jié)構(gòu)
開(kāi)關(guān)交疊損耗,PWM控制器技術(shù)及其工作啟動(dòng)一個(gè)電阻損耗,輸出整流管損耗,箝位保護(hù)系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)損耗,反饋控制電路損耗等。其中前三個(gè)部分損耗與頻率成正比關(guān)系,即與單位一定時(shí)間內(nèi)器件開(kāi)關(guān)使用次數(shù)成正比。
提高開(kāi)關(guān)功率待命的效率
根據(jù)實(shí)際損耗進(jìn)行分析結(jié)果可知,切斷啟動(dòng)一個(gè)電阻,降低控制開(kāi)關(guān)使用頻率,減小開(kāi)關(guān)出現(xiàn)次數(shù)可減小待機(jī)損耗,提高產(chǎn)品待機(jī)效率。具體的方法有:降低內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)頻率;由高頻信息工作管理模式可以切換至低頻部分工作發(fā)展模式,如準(zhǔn)諧振結(jié)構(gòu)模式(QuasiResonant,QR)切換至脈寬調(diào)制(PulseWidthModulation,PWM),脈寬調(diào)制方式切換至脈沖發(fā)生頻率不同調(diào)制(PulseFrequencyModulation,PFM);可控脈沖技術(shù)模式(BurstMode)。
切斷啟動(dòng)電阻
對(duì)于反激式電源,在啟動(dòng)控制芯片搭載輔助繞組后,在電阻上的電壓降開(kāi)始大約300V。啟動(dòng)47kΩ的電阻,功耗大約2W的設(shè)定值。為了提高待機(jī)效率,溝道的電阻必須在啟動(dòng)之后被切斷。 TOPSWITCH,提供了特殊的啟動(dòng)電路內(nèi)部ICE2DS02G,電阻器可以被啟動(dòng)后關(guān)閉。如果沒(méi)有特別的起動(dòng)電路控制器還可以是在起動(dòng)電阻是連接電容,損耗只是后其啟動(dòng)可以被逐漸減小到零。的缺點(diǎn)是,由于開(kāi)關(guān)電源不能重新啟動(dòng),只在輸入電壓斷開(kāi),從而使電容器放電電路重新開(kāi)始。